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在高温工作环境下,17TR系列电容的寿命测试数据是否符合AEC-Q200标准要求?

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问题更新日期:2026-01-23 20:41:58

问题描述

17TR系列电容的高温寿命测试数据详情17T
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17TR系列电容的高温寿命测试数据详情

17TR系列电容作为常见的电子元件,其高温寿命测试通常会模拟实际工作场景,以下是典型测试数据的关键信息: | 测试项目 | 测试条件 | 测试结果 | |------------------|-------------------------|---------------------------| | 高温工作温度 | 125℃持续加载额定电压 | 2000小时无明显参数漂移 | | 容量变化率 | 测试前后对比 | 变化幅度<±5% | | 损耗角正切值 | 1kHz频率下测量 | 维持在初始值的1.2倍以内 | | 绝缘电阻 | 常温及高温下测量 | 均>1000MΩ |

从这些数据来看,17TR系列电容在高温环境下的表现似乎较为稳定,但这是否就意味着符合AEC-Q200标准呢?

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